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高壓加速老化試驗箱(PCT)/精密高溫高壓老化產品應用:PCT加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。

高壓加速老化試驗箱(PCT)/精密高溫高壓老化

壓加速老化試驗箱用途: 廣泛應用于醫療器件消毒，工業上線路板,多層線路板,IC,LCD,

磁鐵等產品之密封性能的檢測.

二、高壓加速老化試驗箱規格：

內箱尺寸: 300×500 mm(φ×D)圓形試驗箱。

外箱尺寸: 700×750×650 mm(W×H×D).

內箱材質 : SUS 304#不銹鋼板材質.

外箱材質：鋼板烤漆。

三、高壓加速老化試驗箱性能：操作環境需在室溫30℃以下且通風良好之條件下進行.

1.溫度范圍 : 110℃ / 132℃.  (飽和蒸氣溫度).

2.濕度范圍 : 100%RH .  (飽和蒸氣濕度).

3.壓力范圍 : 0.5Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制點壓力 (安全壓力容量3.5Kg/cm2 ).

4.時間范圍: 0 ~ 999 小時可調.

5.溫度分布: (+/-)2.0℃.

6.升溫時間: RT ~ 132℃約35分鐘內. （控制點溫度）

7.加壓時間: 0.5Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2 約40分鐘內（控制點壓力）。

四、高壓加速老化試驗箱控制系統：

1.微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器.

2.本系統符合高壓加速老化之可靠度試驗規格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、

NACE、UL、MIL…

3.控制對象: 微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.

4.控制方式: 微電腦PID控制.

5.控制精度: (+/-)0.5℃.

6.解析精度: 0.1℃.

五、循環方式：飽和水蒸氣自然對流循環方式.

六、溫度感應器：（RTD）PT-100Ω(鉑金電阻).

七、加溫電熱器：絕緣耐壓型溫度電熱器.